Уважаемые посетители! Наш сайт обновляется, возможны ошибки в некоторых разделах. Приносим извинения за неудобства.
Настольный просвечивающий микроскоп LVEM5 с разгонным напряжением 5 кв был создан для получения высококонтрастных изображений тонких биологических структур без применения красящих контрастных растворов и без разрушения объектов наблюдения. Со временем выяснилось, что аналогичный подход может успешно применяться и для исследований свойств и состава сложных органических соединений и полимеров. LVEM5 также успешно применяется в решении ряда материаловедческих задач, включая 3-х мерный анализ качества сборки различных наноструктур.
Просвечивающий низковольтный электронный микроскоп LVEM5 производства компании Delong с разгонным напряжением в 5 kV существенно отличается от традиционных электронных микроскопов как по архитектуредизайну так и по функциональности и практичности.
Только LVEM5 может переключаться посредством програмного обеспечения между TEM, SEM, STEM и ED режимами. Последнее позволяет исследовать сверх тонкие 3-х мерные структуры одновременно с изучением деталей поверхности и дифракционной картины в заданной точке образца.
На сегодняшний день LVEM5 является единственным просвечивающим настольным электронным микроскопом. Остальные настольные микроскопы способны работать только в одном сканирующем режиме.
Размеры LVEM5 составляют около 29х45х45 см. Все другие просвечивающие электронные микроскопы по крайней мере в 6–7 раз больше и требуют дополнительных устройств и вложений в инфраструктуру.
LVEM5 не использует водяного охлаждения и питается от обычного источника напряжения в 220 в.
LVEM5 является единственным настольным электронным микроскопом с разрешением в 2.5 нм в TEM и 3 нм в SEM режиме.
LVEM5 обладает уникальной контрастностью изображения в TEM режиме. Поскольку LVEM5 работает при гораздо более низком, чем у остальных TEM микроскопов разгонном напряжении (5 кV) это обеспечивает повышенное взаимодействие пучка излучения и образца приводящее к увеличению рассеяния электронов.
Последнее приводит к повышению контраста который может превосходить обычные трансмиссионные микроскопы работающие при 100 kV напряжении в 10 раз (результат получен при исследовании стандартного образца углеродной плёнки толщиной 20 нм).
Данная особенность LVEM5 позволяет наблюдать структуру биологических и полимерных материалов без подкраски образца.
Несмотря на то, что LVEM 5 — самый маленький коммерчески доступный просвечивающий электронный микроскоп, он позволяет работать во всех стандартных режимах, присущих большим микроскопам. Настольный электронный микроскоп может работать как в просвечивающем режиме (TEM — Transmission Electron Microscope), так и в режиме дифракции (SAED — Selected Area Electron Diffraction), а также в сканирующих режимах: STEM — Scanning Transmission Electron Microscope, SEM — Scanning Electron Microscope с детектором обратно рассеяных электронов (BSE). При этом пространственное разрешение достигает нескольких нанометров.
Ускоряющее напряжение | 5 кВ |
Образец | стандартный диаметр 3.05 мм |
Время замены образца | около 3 минут |
Электронная оптика | |
Конденсаторная линза | Постоянный магнит |
Фокусное расстояние (в расчете на 5 кВ) | 4.30 мм |
Минимальная зона облучения | 100 нм |
Апертура | диаметр 50 и 30 микрон |
Линза объектива | Постоянный магнит |
Фокусное расстояние (в расчете на 5 кВ) | 1.26 мм |
Cs (сферическая абберация) | 0.64 мм |
Cc (хроматическая абберация) | 0.89 мм |
δteor (теоретическое разрешение) | 1.1 нм |
αteor (теоретическая апертура) | 1*10-2 рад |
Апертура объектива | диаметр 50 и 30 микрон |
Проецирующий объектив | электростатический |
Увеличение на экране АИГ | 36–470 |
Электронная пушка | Катод Шотки ZrO/W [1 0 0] |
Плотность тока | 0.2 мА*стерадиан-1 |
Срок эксплуатации | более 2000 часов |
Световая оптика | |
Объектив Olympus M 40x | NA 0.90 |
Объектив Olympus M 4x | NA 0.13 |
Бинокуляр М 10х | Olympus U-TR30-2 широкопольный тринокуляр |
Регистрация в режиме TEM | |
Камера | Retiga 4000R CCD |
Матрица | 2048 х 2048 пикселей |
АЦП | 12 бит |
Размер пикселя | 7.4 х 7.4 микрон |
Охлаждение | элемент Пельтье по запросу |
Регистрация в режиме SCAN | |
Монитор | 512 х 512 пикселей |
Разрешение файла | до 2048 х 2048 пикселей |
АЦП | 8 бит |
Режимы съемки | |
TEM | |
Разрешение | 2.5 нм |
Увеличение (в зависимости от разрешения матрицы) | 1500–150000 |
ED (электронная дифракция) | |
Минимальный размер образца | 100 нм |
Дифракционная линза | увеличение 3.5 |
STEM | |
Разрешение | 2.0 нм |
Минимальное увеличение | (25 х 25 микрон) 6000 |
SEM (детектор BSE) | |
Разрешение | 4 нм |
Минимальное увеличение | (200 х 200 микрон) 800 |
Вакуум | |
Система смены образца (Airlock) | |
Диафрагменный и турбомолекулярный насосы | 1*10-5 атм |
Пространство образца | |
Геттеро-ионный насос (10 л/сек) | 1*10-8 атм |
Электронная пушка | |
Геттеро-ионный насос (7 л/сек) | 1*10-9 атм |
Вес и размеры | |
Электронная и световая оптические системы | |
Вес | 25 кг |
Размеры (ШхВхГ) без камеры | 290х450х430/480 мм |
Вакуумная система блока смены образца (Pfeiffer TSH) | |
Вес | 15 кг |
Размеры (ШхВхГ) | 300х300х340 мм |
Управляющая электроника | |
Вес | 19 кг |
Размеры (ШхВхГ) | 470х270х290 мм |
Питание | |
Управляющая электроника в режиме ожидания (только ионные насосы) | 20 ВА |
Управляющая электроника | 160 ВА |
Насос камеры смены образца | 300 ВА |
Камера | 24 ВА |
Водяное охлаждение | не требуется |
Отправить заявку
© 2004–2024 ООО «Медтех Альянс». Все права защищены.